參考周期：常規(guī)試驗7-15工作日，加急試驗5個工作日。

注意：因業(yè)務調(diào)整,暫不接受個人委托測試,望諒解(高校、研究所等性質(zhì)的個人除外)。

　　中析研究所可基于相應的光電子檢測標準，采用各種分析測試方法進行檢測服務。同時，我們還能根據(jù)客戶的需求，設計個性化的檢測方案，為客戶提供非標準檢測服務。

光電子檢測項目

　　中析服務項目一般包括：光電流、光電壓、光譜響應、量子效率、暗電流、響應時間、線性動態(tài)范圍、信噪比、分辨率、波長選擇性、光譜分辨率、響應波段、光電轉(zhuǎn)換效率、飽和光強度、光電功率響應等。

光電子檢測范圍

　　半導體材料、光電器件、納米顆粒、化合物膜、表面等離子體、光敏材料、光學涂層、光學晶體、金屬薄膜、有機分子等樣品的檢測。

測試儀器

　　光電子檢測相關儀器：

　　光電子倍增管：利用光電效應將光信號轉(zhuǎn)換為電子信號，并通過倍增技術放大信號，常用于低光強檢測。

　　光電二極管：通過光生電荷效應產(chǎn)生電流信號，適用于光譜檢測、光電轉(zhuǎn)換等領域。

　　光電探測器陣列：由多個光電二極管組成的陣列，可實現(xiàn)多通道同時檢測，提高檢測效率和準確性。

　　光電子能譜儀：用于測量物質(zhì)的光電子能譜分布，分析樣品的電子結(jié)構和能級信息。

　　光電子顯微鏡：結(jié)合光學顯微鏡和光電探測技術，實現(xiàn)對微觀結(jié)構的高分辨成像和表征。

光電子檢測標準

　　GB/T 19500-2004 X一射線光電子能譜分析方法通則

　　GB/T 21006-2007 表面化學分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強度標的線性

　　GB/T 21194-2007 通信設備用的光電子器件的可靠性通用要求

　　GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準

　　GB/T 25184-2010 X射線光電子能譜儀檢定方法

　　JIS T0306-2002 金屬類生物材料的靜態(tài)皮膜X光電子分光法(XPS)所作的狀態(tài)分析

檢測流程

　　1、提供在線咨詢和電話溝通服務。

　　2、由專人負責發(fā)送對應的實驗室地址，郵遞檢測樣品到本所實驗室或上門采樣。

　　3、為您對接工程師,由工程師評估后報價，便捷實惠。

　　4、簽署委托書，支付檢測所需費用，深入開展實驗。

　　5、約定時間完成檢測，出具檢測報告。

　　6、郵寄檢測報告，專屬1V1售后服務。

　　工程師會根據(jù)不同產(chǎn)品類型的特點、不同行業(yè)和不同國家的法規(guī)標準以及客戶的需求，選取相應的檢測項目和方法進行光電子檢測。

中析儀器 資質(zhì)